• Семинар ЦКМАД ВИШ и SIAMS Автоматизированные технологии металлографического контроля

  • ___4-5 февраля в Центре компьютерного моделирования и анализа данных Высшей инженерной школы состоялся очередной семинар компании SIAMS "Автоматизированные технологии металлографического контроля". На семинаре пристуствовали руководители и специалисты центральных заводских лабораторий, исследовательских центров и служб контроля качества металлргических и машиностроительных предприятий, представители инжиниринговых организаций и вузов.

    Программа семинара включала:
    • Анонсы технологических новинок в области автоматизированного металлографического анализа и работы с информацией
    • Консультации технических экспертов по выбору современного оборудования цифровой микроскопии
    • Мастер-классы по автоматизированным методикам анализа
    Среди достоинств семинара участники отметили: проведение дискуссий с коллегами и экспертами в неформальной обстановке, расширение профессионального кругозора.

Вход через learn.urfu.ru